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思达天蝎座Scorpio AIR-DCEM封装级测试系统，支持纳米级Cu/Low-K互连程序的可靠性表征。

思达天蝎座Scorpio AIR-DCEM晶圆级测试系统，支持纳米级Cu/Low-K互连程序的可靠性表征。

思达天蝎座Scorpio AIR-DAEM可靠性测试系统，适用于3D ICs硅中介层、TSV和微突块的IMD-TDDB测试。

思达天蝎座Scorpio hiVIP HCE/HTRB/ HTGB 高压大电流可靠性测试系统，涵盖电压要求高达200 V 的高功率器件的可靠性要求。

思达天蝎座Scorpio hiVIP – Vt稳定性可靠性测试系统，是为不同应力和温度分布的Vt稳定性分析而设计，可满足高功率器件的行业需求。

思达天蝎座Scorpio hiVIP – GOI/TDDB高压大电流可靠性测试系统，提供高功率、MOSFET和电容的GOI/TDDB测试。

思达射手座Sagittarius WLR 包含行业界现存的标准参数整合软件，具有用于电子迁移(EM)、热载流子注入(HCI)、偏压温度不稳定性(BTI)、依时性介电崩溃( TDDB)等等的全套晶圆级可靠性(WLR)测试算法，且提供用于增进產量的多芯片WLR的特殊应用。

思达水瓶座Aquarius RDA提供动态数据分析和可靠性结果的图形解释，以便立即进分析和报告，可用在HCI/BTI、GOI/TDDB、Vt稳定性和EM应用。

Sandia Technologies PDQ-WLR晶圆级可靠性测试软件，支持生产和开发且降低测试成本。

思达DC-AARTS自动化加速可靠性测试系统，是为了提高通道密度而设计，并集成了可靠性参数化测试需要的所有功能，如GaN/GaAs半导体射频器件。

思达RF-AARTS系统是设计用在对具有RF、DC和热刺激的器件施力压力，以评估可靠性和性能退化。 

思达mmWave AARTS系统是针对高频器件，在最终使用操作条件下的可靠性表征而设计。

Accel-RF standard RF fixture标准射频装置，可支持脉冲和非脉冲的测试操作，采用SMA输入/输出连接。对于功率大于10W的射频输出，基于功率处理能力，可使用N-type连接器取代SMA连接器。

Accel-RF Quantum SMART Fixture是可编程的独立式DC偏置和射频刺激控制模块，能够将连续独立脉冲电压和脉冲射频信号，同步到被测器件（DUT）或远程装置。

Accel-RF小型RF-Ready DC装置10多年来作为DC寿命测试的行业标准，标准配置用在RF特性验证的SMA输入/输出连接器。