产品信息 > 可靠性测试系统

思达天蝎座Scorpio AIR-DCEM封装级测试系统，支持纳米级Cu/Low-K互连程序的可靠性验证，且并行测试最高可达384个待测器件。

思达天蝎座Scorpio AIR-DCEM晶圆级测试系统，支持纳米级Cu/Low-K互连程序的可靠性表征，且能实现高性能的1uA 至 100mA 铜互连电迁移测试，最高达100V low-K 的IMD-TDDB验证。

思达天蝎座Scorpio AIR-DAEM可靠性测试系统，支持针对3维芯片硅中介层、TSV和微凸块的IMD-TDDB测试，且能进行高达5A-dc的恒定大电EM 测试，TDDB 最高达 200V。

思达天蝎座Scorpio hiVIP HCE/HTRB/ HTGB高压大电流可靠性测试系统，旨在支持精准的低压和高压应力偏置，涵盖高功率器件，如DMOS、IGBT和功率MOSFET的可靠性要求。

思达天蝎座Scorpio hiVIP – Vt稳定性可靠性测试系统，是为封装级测试而设计，支持不同应力和温度分布的Vt稳定性分析，可满足高功率器件的行业需求。

思达 Scorpio hiVIP – GOI/TDDB 可靠性测试系统，指在支持高功率 MOSFET 和电容的封装级可靠性测试，可直接连接DUT 板，确保精准数据并支持在单一系统同时进行多项实验。

Sandia PDQ-WLR晶圆级可靠性测试软件，配置测试菜单和执行功能，提供简易使用的测试平台，高精度、快速的WLR固定程序，可主动控制Keysight 4070 和4080系列参数测试仪预测可靠性测试的关键加速。

思达水瓶座Aquarius RDA提供动态数据分析和可靠性结果的图形解释，以便立即进分析和报告，可用在HCI/BTI、GOI/TDDB、Vt稳定性和EM应用。

Sandia PDQ-WLR晶圆级可靠性测试软件，配置测试菜单和执行功能，提供简易使用的测试平台，高精度、快速的WLR固定程序，可主动控制Keysight 4070 和4080系列参数测试仪预测可靠性测试的关键加速。

思达DC-AARTS自动化加速可靠性测试系统，是为了提高通道密度而设计，并集成了可靠性参数化测试需要的所有功能，如GaN/GaAs半导体射频器件。

思达RF-AARTS系统是设计用在对具有RF、DC和热刺激的器件施力压力，以评估可靠性和性能退化。 

思达mmWave AARTS系统是针对高频器件，在最终使用操作条件下的可靠性表征而设计。

Accel-RF standard RF fixture标准射频装置，可支持脉冲和非脉冲的测试操作，采用SMA输入/输出连接。对于功率大于10W的射频输出，基于功率处理能力，可使用N-type连接器取代SMA连接器。

Accel-RF Quantum SMART Fixture是可编程的独立式DC偏置和射频刺激控制模块，能够将连续独立脉冲电压和脉冲射频信号，同步到被测器件（DUT）或远程装置。

Accel-RF小型RF-Ready DC装置10多年来作为DC寿命测试的行业标准，标准配置用在RF特性验证的SMA输入/输出连接器。