产品信息 > 可靠性测试系统
思达利用其广泛的行业专业知识，设计，构建，测试和支持半导体器件和互连可靠性测试，芯片产品老化，环境测试，产品筛选，PCB可靠性等等的可靠性系统，满足构建如坚定可靠性工程系统的所有需求。
- ALL-IN-ONE 一体化可靠性测试系统
- 先进器件可靠性测试系统
- 先进互连可靠性测试系統
- 功率器件可靠性测试系统
- 可靠性测试分析软件
- 自动化加速RF射频可靠性测试系统
ALL-IN-ONE 一体化可靠性测试系统
Pluto 一体化Per-Pin SMU可靠性测试系统
Pluto 一体化Per-Pin SMU可靠性测试系统
Pluto 一体化Per-Pin SMU可靠性测试系统
思达冥王星Pluto系列可靠性测试系统是一款先进一体化测试系，涵盖半导体封装级和晶圆级的所有验证测试，包含HCI/OTF/HCE，GOI/TDDB and EM等等的应用。
Gemini 一体化可靠性测试系统
Pluto 一体化Per-Pin SMU可靠性测试系统
Pluto 一体化Per-Pin SMU可靠性测试系统
思达双子星 Gemini系列是HCI、BTI、TDDB、SILC、电子迁移和应力迁移等的一体化可靠性测试系统。
高性能HTRB/HTGB/H3TRB 可靠性测试系统
Apollo - HTRB/HTGB/H3TRB高功率器件可靠性测试系统
思达阿波罗Apollo HTGB/HRTB/H3TRB可靠性测试系统，是针对氮化镓（GaN）、碳化硅（SiC）、MOSFET、IGBT等功率器件测试而设计的平台，精准量测，符合MIL-STD-750、JESD22-A108 和 AEC-Q101 标准的要求。
先进器件可靠性测试系统
Scorpio ART – HCI/BTI封装级可靠性测试系统
Scorpio ART – HCI/BTI封装级可靠性测试系统
Scorpio ART – HCI/BTI封装级可靠性测试系统
思达天蝎座Scorpio HCI/BTI 封装级可靠性测试系统，配备符合JEDEC标准测试要求，可实现MOSFET HCI, NBTI和OTF，先进精确的可靠性验证。
Scorpio ART – HCI/BTI晶圆级可靠性测试系统
Scorpio ART – HCI/BTI封装级可靠性测试系统
Scorpio ART – HCI/BTI封装级可靠性测试系统
思达天蝎座HCI/BTI Scorpio HCI/BTI晶圆级可靠性测试测试系统，符合JEDEC 标准的测试要求，且支持MOSFET HCI、NBTI、OTF和纳米技术器件的可靠性验证。
Scorpio ART – GOI/TDDB封装级可靠性测试系统
Scorpio ART – GOI/TDDB封装级可靠性测试系统
Scorpio ART – GOI/TDDB封装级可靠性测试系统
思达天蠍座 Scorpio GOI/TDDB 封装级可靠性测试系統，支持 MOSFET 和电容的 VTDDB、VSILC 和 D/G 应力分析。先进的直接对接技术，确保数据准确且支持在單一系统中，同时进行多项实验。
Scorpio ART – GOI/TDDB晶圆级可靠性测试系统
Scorpio ART – GOI/TDDB封装级可靠性测试系统
Scorpio ART – GOI/TDDB封装级可靠性测试系统
思达天蝎座Scorpio GOI/TDDB 晶圆级可靠性测试系统，满足JEDEC在先进氧化物可靠性分析的测试要求。附加的Fast-VTDDB ，以及多电压电平VSILC 功能，则可在短间隔的监控下，进行连续应力偏置，实现晶圆级WLR的高分辨率崩贵时间。
功率器件可靠性测试系统
Scorpio hiVIP – Vt稳定性可靠性测试系统
Scorpio hiVIP – GOI/TDDB可靠性测试系统
Scorpio hiVIP – GOI/TDDB可靠性测试系统
思达天蝎座Scorpio hiVIP – Vt稳定性可靠性测试系统，是为封装级测试而设计，支持不同应力和温度分布的Vt稳定性分析，可满足高功率器件的行业需求。
Scorpio hiVIP – GOI/TDDB可靠性测试系统
Scorpio hiVIP – GOI/TDDB可靠性测试系统
Scorpio hiVIP – GOI/TDDB可靠性测试系统
思达 Scorpio hiVIP – GOI/TDDB 可靠性测试系统，指在支持高功率 MOSFET 和电容的封装级可靠性测试，可直接连接DUT 板，确保精准数据并支持在单一系统同时进行多项实验。
可靠性测试分析软件
Sagittarius WLR – 晶圆级可靠性测试系统
Sagittarius WLR – 晶圆级可靠性测试系统
Sandia PDQ-WLR晶圆级可靠性测试软件，配置测试菜单和执行功能，提供简易使用的测试平台，高精度、快速的WLR固定程序，可主动控制Keysight 4070 和4080系列参数测试仪预测可靠性测试的关键加速。
Aquarius RDA – 可靠性数据分析器
Sagittarius WLR – 晶圆级可靠性测试系统
思达水瓶座Aquarius RDA提供动态数据分析和可靠性结果的图形解释，以便立即进分析和报告，可用在HCI/BTI、GOI/TDDB、Vt稳定性和EM应用。
Sandia Technologies PDQ-WLR
Sandia Technologies PDQ-WLR
Sandia PDQ-WLR晶圆级可靠性测试软件，配置测试菜单和执行功能，提供简易使用的测试平台，高精度、快速的WLR固定程序，可主动控制Keysight 4070 和4080系列参数测试仪预测可靠性测试的关键加速。
自动化加速RF射频可靠性测试系统
DC-AARTS 自动化加速可靠性测试系统
mmWave-AARTS 毫米波自动化加速可靠性测试系统
RF-AARTS 射頻自動化加速可靠性測試系統
思达DC-AARTS自动化加速可靠性测试系统，是为了提高通道密度而设计，并集成了可靠性参数化测试需要的所有功能，如GaN/GaAs半导体射频器件。
RF-AARTS 射頻自動化加速可靠性測試系統
mmWave-AARTS 毫米波自动化加速可靠性测试系统
RF-AARTS 射頻自動化加速可靠性測試系統
思达RF-AARTS系统是设计用在对具有RF、DC和热刺激的器件施力压力，以评估可靠性和性能退化。
mmWave-AARTS 毫米波自动化加速可靠性测试系统
mmWave-AARTS 毫米波自动化加速可靠性测试系统
思达mmWave AARTS系统是针对高频器件，在最终使用操作条件下的可靠性表征而设计。
标准射频装置
Accel-RF standard RF fixture标准射频装置，可支持脉冲和非脉冲的测试操作，采用SMA输入/输出连接。对于功率大于10W的射频输出，基于功率处理能力，可使用N-type连接器取代SMA连接器。
Quantum SMART 射频/微波测试装置
Accel-RF Quantum SMART Fixture是可编程的独立式DC偏置和射频刺激控制模块，能够将连续独立脉冲电压和脉冲射频信号，同步到被测器件（DUT）或远程装置。
小型射频DC装置
Accel-RF小型RF-Ready DC装置10多年来作为DC寿命测试的行业标准，标准配置用在RF特性验证的SMA输入/输出连接器。