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产品信息 > MEMS探针卡

思达科技设计开发了MEMS微懸臂探针卡和垂直探针卡,适用在高度并行大阵列多被测器件的测试,可提高生产量且大幅降低测试成本。

Virgo-Prima 3D/2.5D MEMS微悬臂探针卡

思达处女座Virgo-Prima 3D/2.5D MEMS 微悬臂探针卡是为纳米技术节点程序而设计实现的,也是用在产线WAT/E-test、In-Line/process的参数/E-test,和包括HCI、TDDB、EM等等的理想集成探针卡解决方案。

Aries-Prima One-Touch 存储器测试探针卡

思达牡羊座Aries-Prima 3D MEMS工艺探针卡,支持高度并行大型阵列Multi-DUT储存器测试;可实现整个300mm晶圆单一点触测试。

Aries-Optima – MEMS垂直探针卡

Aries-Optima – MEMS垂直探针卡

Aries-Optima – MEMS垂直探针卡

思达牡羊座 Aries-Optima 探针卡是一款高电流MEMS工艺垂直探针卡,适用于大量生产、制造并可以实现晶圆级测试所需的MEMS探针卡前沿技术。

Aries-Optima – MEMS垂直探针卡

Aries-Optima – MEMS垂直探针卡

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