产品信息 > 垂直式探针卡
思达科技开发了专属的专利垂直探针卡设计，可针对各种参数、存储器和逻辑芯片应用进行调整。
- 参数测试垂直探针卡
- 混合信号测试垂直探针卡
- SOC IC 芯片测试垂直探针卡
参数测试垂直探针卡
Virgo PRO-Zenith 参数和可靠性测试垂直探针卡
思达处女座Virgo-Zenith 非常适用在极端热环境下进行超低漏流测试，且接触阻抗<0.3 Ω。
混合信号测试垂直探针卡
Aries-Zenith 混合信号芯片垂直探针卡
思达牡羊座Aries-Zenith 探针卡支持混合信号/模拟IC和精确的高电流低电压Kelvin-type凸点焊垫探测，用于Multi-DUT PMICs (电源管理芯片) 功能测试。
SOC IC 芯片测试垂直探针卡
Aries Gamma-C Verigy 93K直接对接探针卡
Aries Zenith-BI – SOC/Memory芯片老化测试探针卡
Aries Zenith-BI – SOC/Memory芯片老化测试探针卡
思达牡羊座Aries Gamma-C (垂直”眼镜蛇”)探针卡，可在晶圆分类时进行高性能，多站点功能测试，且通过机械设计进行接触力的管理，并具有平面度以支援晶圆测试时的高探针数。
Aries Zenith-BI – SOC/Memory芯片老化测试探针卡
Aries Zenith-BI – SOC/Memory芯片老化测试探针卡
Aries Zenith-BI – SOC/Memory芯片老化测试探针卡
思达牡羊座Aries Zenith-BI 是采用垂直接触探针卡技术，专门用在SOC和存储器芯片的高温老化测试，非常适用在小型焊垫先进功率器件的晶圆分类和功能测试。