产品信息 > 垂直式探针卡
思达科技开发了专属的专利垂直探针卡设计，可针对各种参数、存储器和逻辑芯片应用进行调整。
- 参数测试垂直探针卡
- 混合信号测试垂直探针卡
- SOC IC 芯片测试垂直探针卡
参数测试垂直探针卡
Virgo PRO-Zenith 参数和可靠性测试垂直探针卡
思达处女座Virgo PRO-Zenith WAT晶圆参数测试探针卡，非常适用于极高温环境下测试超低漏电电流，接触电阻则小于0.3Ω。
混合信号测试垂直探针卡
Aries-Zenith 混合信号芯片垂直探针卡
思达牡羊座Aries-Zenith晶圆测试探针卡，可实现混合信号/模拟芯片，和凸点焊盘的精准大电流低电压开尔文式探测（Kelvin-type probing），支持多待测物（Multi- DUT）电源管理芯片（PMIs）的功能测试。
SOC IC 芯片测试垂直探针卡
Aries Gamma-C Verigy 93K直接对接探针卡
Aries Zenith-BI – SOC/Memory芯片老化测试探针卡
Aries Zenith-BI – SOC/Memory芯片老化测试探针卡
思达牡羊座Aries Gammer-C Cobra 眼镜蛇垂直探针卡，支持在晶圆分选的高性能多点功能测试；通过机械设计的接触力管理，能够实现高引脚数的晶圆测试，并保持优异的平面度。
Aries Zenith-BI – SOC/Memory芯片老化测试探针卡
Aries Zenith-BI – SOC/Memory芯片老化测试探针卡
Aries Zenith-BI – SOC/Memory芯片老化测试探针卡
思达牡羊座Aries Zenith-BI采用垂直探针卡技术，特别适用于SOC的高温老化测试、存储器芯片晶圆分选和小型焊盘的先进功率器件功能测试。