解决方案 > 高压高流电子测试解决方案
思达科技提供高压高流电子测试解决方案，包括应用在半导体，LED器件和通信等行业的软硬件开发。
- HIV切换测试系统
- 功率器件可靠性验证测试系统
- 半自动测试探针台
- 集成测试系统
HIV切换测试系统
Accel-RF 高压切换测试系统
思达Accel-RF电源切换测试系统能够在切换功率应用最高达1kV (off) /25 A (on)，和切换频率最高至1 MHz（取决于电压）的各种不同状态下，进行可靠性测试。
功率器件可靠性验证测试系统
Scorpio hiVIP – HCE/HTRB/HTGB可靠性测试系统
Scorpio hiVIP – HCE/HTRB/HTGB可靠性测试系统
Scorpio hiVIP – HCE/HTRB/HTGB可靠性测试系统
思达天蝎座Scorpio hiVIP HCE/HTRB/HTGB可靠性测试系统设计用在支持精确的低压和高压应力偏置，以满足DMOS，IGBT和功率MOSFET的测试需求。功率器件可靠性应用包括HCE、HTRB和HTGB的安全操作区（SOA）分析。
Apollo – HTRB/HTGB/HTOL可靠性测试系统
Scorpio hiVIP – HCE/HTRB/HTGB可靠性测试系统
Scorpio hiVIP – HCE/HTRB/HTGB可靠性测试系统
思达阿波罗Apollo-HTBR/HTGB/HTOL可靠性测试机，包括高性能热烤箱，老化板，驱动板和软件，并允许同时执行不同温度和电刺激下的多项验证。
半自动测试探针台
Magic-A200e 高功率半自动探针台
Magic-A200e 高功率半自动探针台
Magic-A200e 高功率半自动探针台
思达Magic-A200e 是高功率半自动测试探针台，确保精密器件特性、晶圆级可靠性和故障分析、高速器件晶圆分类等可信赖的测量。
Magic-A200a 高功率手动探针台
Magic-A200e 高功率半自动探针台
Magic-A200e 高功率半自动探针台
Magic-P200e 高功率半自动探针台
Magic-P200e 高功率半自动探针台
Magic-P200e 高功率半自动探针台
思达Magic-P200e是一台出色的探针台，应用于器件表征、晶圆级可靠性验证、SPICE建模或产量提升。
Magic-P300e 高功率半自动探针台
Magic-P200e 高功率半自动探针台
Magic-P200e 高功率半自动探针台
思达Magic-P300e 是工程级探针台。配备精密晶圆校准，应用在三温低漏电流DC和高频/射频测试。
集成测试系统
Sagittarius TMS – 集成测试与量测系统
思达射手座Sagittarius带来了半导体参数测试和管理方案的全新时代。应用方案已广泛覆盖了包括CMOS, Si/GaAs IC、平板显示（FPD）、智能高功率芯片、有线/无线通讯器件、RFIC、RF MOSFET、硅光子器件等等。