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2021.11.23
STAr Aries Prima 3D MEMS微悬臂式CMOS图像传感器测试探针卡
台湾, 新竹 - 2021年因为5G智能型手机、影像装置、车用摄像系统，和其他嵌入式摄像头技术的需求不断增加，带动了CMOS图像传感器(CIS)的测试需求。为提供先进的CIS器件最佳的探测解决方案，思达科技的研发团队持续精进3D MEMS微悬臂式探针卡的开发技术，如今正式在CMOS图像感测器(CIS)测试市场，推出新款的MEMS探针卡。
思达牡羊座Aries Prima是一款先进的3D MEMS微悬臂式探针卡，适合应用在高性能并行Multi-DUT的图像传感器(CIS)器件测试。为了能达到和CIS器件在分辨率、帧率（Frame rate）、通信速度等各方面的优化程度相当，应用在Aries Prima探针卡的MEMS探针技术，最小间距低至50um，最高针数达15,000 pins，支持最多达64被测器件的并行测试，在提高生产力的同时，可确保可信的测试结果。另外，此款MEMS微悬臂式探针卡，可在-40℃到150℃的宽温度环境下和最高达到6Gbps的测试速度，实现高速自动测试。
思达科技技术长暨执行长刘俊良博士，针对此款新开发的MEMS探针卡表示，"MEMS探针卡是现今半导体测试行业的主流测试解决方案。我们相信，搭配3D MEMS微悬臂式探针的Aries Prima，将是CMOS功能测试的最佳选择，能带给客户更具效能的生产程序。"
思达Aries Prima图像传感器测试探针卡
2021.11.10
思达独角兽STAr Unicorn LAIT系列Mini/Micro LED测试系统
台湾，新竹 - 随着新型LED显示器的发展，Mini和Micro LED的测试需求持续增加。思达科技的独角兽STAr Unicorn-LAIT系列测试系统，是先进高生产量的测试仪，集成探针台、并行测试仪和探针卡，以满足Mini和Micro LED的批量生产需求。
思達獨角獸Unicorn-LAIT系列配置EMI屏蔽室，可在超低噪聲環境下進行高速的LED測試 。Magic-A200e探針台最高可校準6吋的晶圓，且使用Multi-DUT LED測試探針卡，進行自動化探測；閉環ＸＹＺ針座和同軸顯微鏡，可實現Multi-LED步進和高解析度掃描，能在探測過程中確保最佳精準度。此外，多孔的陶瓷帶輔助夾具（Chuck）可執行清潔和接觸檢查，以提高LED測試性能和信賴的結果。
思达金牛STAr Taurus-LPX高生产量的参数量测单元(PMUs)为基础，Unicorn-LAIT的并行测试产能范围由40个到最多达240个LED，而每个模块可配置的电流范围，最多5个模块（每个模块48个通道）。同时，通过FPGA固件控制和高速ADC，Taurus-LPX可进行高速并行测试，确保最高的测试生产量，以及良好的准确和和可重复性。
此外，思达STAr Aries µLED是一款寿命长、Multi-DUT多点LED测试探针卡，使用96个探针进行单次点触。Aries µLED可选择配置CDA，以清除探测碎片和晶圆微粒。再者，LED测试可针对不同的需求而配置，如VF、IF等等，而特殊电压的探针则可应用在ESD的测试项目。
思科技执行长刘俊良博士表示，“Unicorn-LAIT系列是一款先进的集成测试系统，可执行符合成本效益的Micro-LED批量生产，满足Mini-LED和Micro-LED的测试需求。具备高效型的系统架构，Unicorn-LAIT探测解决方案，适用于LED组件和光学设备制造商，减少客户的测试成本。＂
2021.10.25
思达科技推出金牛座Taurus TS-860x半导体测试分析仪
台湾，新竹 - 半导体测试设备领导供应商-思达科技，今天宣布推出金牛座Taurus TS-860x半导体测试分析仪。此款新的分析仪，是带有5个插槽的可扩充式基础架构，单个模块最多至80个通道，每个系统最高达400个通道，以因应行业应用和发展趋势。
思达金牛座Taurus TS-860x系列配置标准的可扩充式界面，确保测试效能、测试数据准确性以及关键信号完整性。相较于既有的半导体测试分析仪，新款的Taurus TS-860x 系统能弹性地整合per-pin SMU架构，以支持DC/AC量测与可靠性测试应用，例如HCI、NBTI、TDDB和GOI等等器件特性验证。此外，Taurus TS-860x能更有效地降低量测成本，满足半导体测试与客制化服务的需求。
思达科技执行长刘俊良博士表示，"由于芯片需求增加，半导体测试市场成长速度加快。因应市场趋势，必须研发新的解决方案和服务，以满足客户的需求。思达金牛座Taurus TS-860x则是为当前和未来的测试需求，提供了另一个量测选择。"
2021.07.17
思达科技发布运用在前沿晶圆级可靠性验证的测试系统软件
台湾，新竹 - 半导体测试解决方案供应商思达科技，发表新款应用在前沿晶圆级可靠性测试的集成平台—思达射手座Sagittarius-WLR。Sagittarius-WLR是为了满足前沿纳米技术的新器件可靠性验证的需求而开发。超过30个新开发或修改的测试演算法，以符合先进可靠性验证的要求，包括超快速NBTI/PBTI、HCI、GOI/TDDB、等温电迁移等。Sagittarius-WLR是运用在前沿技术节点(node)半导体器件可靠性验证，具备快速、预测与合格的解决方案中，最全方位的软件之一。
Sagittarius-WLR涵盖了大多数的关键可靠性测试要求，且具有并行多器件和多测试仪操作功能，减少验证时间。通过动态并行执行模式，用户可同时运作多个器件，以应力和器件并行测试，来降低验证时间。此外，多测试仪的作业模式，允许最多32个独立的虚拟测试仪，在一个硬件配置下运行测试。这样的灵活度，可支持所有类型的测试拆分和动态测试选择，以及并行自动化测试操作。
再则，Sagittarius-WLR设计了实时PASS/Fail判断和测试数据显示功能，让用户达成高效的可靠性测试。此系统可以更进一步运用在电气程序监控（PCM）、可靠性监控和可靠性验证。系统的数据将同时被存储在文件管理系统，作为原始数据，且以CSV或任何用户定义的格式存储在本地或云中，以便利用提供的软件工作，进行在线的数据分析。 Sagittarius-WLR已被行业界选用，安装了数百套，并且都可以通过升级使用新功能，成功提升可靠性验证的效率和吞吐量。
思达科技测试事业群总经理简裕民，针对这款高价值的测试系统表示，”思达科技数十年来一直致力于半导体可靠性测试的研发，并且持续提供增进量测效率和精度的解决方案。Sagittarius-WLR是最好的集成测试平台，有效提高可靠性验证效率，同时具有涵盖所有顶级晶圆制造厂安装的记录。”
2021.06.02
思达科技宣布全球首款量产型微间距大电流MEMS垂直探针卡上市
台湾，新竹 - 半导体测试系统与探针卡知名厂商-思达科技宣布，推出牡羊座Aries Optima MEMS探针卡，是全球首款应用在大量制造的微间距大电流MEMS垂直探针卡。 Aries Optima是MEMS探针卡技术的最新巅峰，不仅制订新标准，满足了晶圆级测试的新需求，且进而促使思达科技成为MEMS探针卡技术的市场领导供应商。
十多年来，思达科技致力在开发以及部署高价值的垂直探针技术，研发了一套系统和方法，以快速适应市场兴起的需求。思达科技在过去20年间定期推出新产品，满足不断变化、各方面的市场需求，持续实现对于半导体测试行业的承诺，包括增进测试效率、降低测试成本，以及测试精度的优化、达成最佳市场价值等等。
Aries Optima系列的MEMS垂直探针卡，设计方面除了满足不断发展的大电流需求外，探针间距也降至45um，可将投资回报率最大化且减少支出，具有更高的价值。思达拥有批量生产的MEMS探针，负载力为550mA，适用于标准应用；在汽车和高功率方面，则可达700mA、最高至150摄氏度。
根据半导体市调机构VLSI的报告，受惠于景气回温，其5G拓展、IT基础建设等，推升芯片需求持续成长。这些市场因素驱动MEMS技术更加重视生产效率、减少测试时间与成本，市场占有率也正逐渐提高。相较于传统的Cobra探针，Aries Optima系列稳定的DC和泄漏电流表现，非常适合应用在RF、AP、高功率等等的测试。
Aries Optima-全球首款应用在大量制造的微间距大电流MEMS垂直探针卡