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产品信息 > 计量工具

在半导体制造时,计量工具的功能表现直接影响质量和良率。思达科技和重要的计量设备供应商合作,在先进程序控制,缺陷分析和关键结构测量等方面,提供解决方案。

Lasertec共焦激光扫描显微镜

Lasertec 激光显微镜OPTELICS® HYBRID+

Lasertec 激光显微镜OPTELICS® HYBRID+

Lasertec 激光显微镜OPTELICS® HYBRID+

Lasertec 激光显微镜OPTELICS® HYBRID+适用半导体材料,MEMS,薄膜,光学零件,有机/无机材料等行业料件。

激光显微镜OPTELICS® HYBRID

Lasertec 激光显微镜OPTELICS® HYBRID+

Lasertec 激光显微镜OPTELICS® HYBRID+

Laser Microscope OPTELICS® HYBRID 观测各种样料的混合材料,包括半导体材料和器件、透明薄膜、ITO薄膜、MEMS、涂层材料和薄膜、无机和有机材料、生物样品、金属和塑料零件。

光学检验 / 测量显微镜

光学检验 / 测量显微镜

光学检验 / 测量显微镜

思达科技与供应商合作开发,销售,服务和支持光学检测显微镜。光学显微镜利用可见光和透镜系统,放大样品的图像;数码显微镜则采用先进的CCD和光学器件,执行自动对焦的大范围变焦。

探针卡介面

光学检验 / 测量显微镜

光学检验 / 测量显微镜

思达科技拥有Onto的独家认证,设计,制造和检验用在不同自动化测试设备平台的探针卡界面,以便生产测试结果精确一致的产品。此外,思达为PrecisionPoint(PRVX)系列探针卡分析仪提供了PCIs,能够为客户提供最佳的探针/测试仪工作单元环境模拟。

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