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2023.12.05
思达阿波罗Apollo系列 功率器件可靠性测试系统
知名半导体测试系统供应商 - 思达科技，推出阿波罗Apollo HTRB/HTGB高性能可靠性测试系统。此系统是针对功率器件验证而设计，允许不同温度范围的测试，而器件保护和电刺激(Electronical Stimulus)可同时进行，避免待测器件在应力击穿时受损。
思达阿波罗Apollo系列测试系统，支持包含像是氮化镓(GaN)、碳化矽(SiC)、MOS等，降低高压大电流应用时功率耗损的功率器件，在高电压至2000V的HTRB/HTGB和低电压至100V的HTBG的测试。配备高性能温度烤箱、老化板(burn-in boards)、驱动板(driver boards)，和可自订测试流程和演算法、持续烤箱温度监控、即时器件漏电监测等等的软体工具，确保高效能的品质验证程序和一致性的测试结果。
阿波罗Apollo测试系统，通过特殊的工具和配置，可提升可靠性测试效率，确切对应产业的测试要求。自动化测试程序控制应用装置可支持高温；而即时漏电装置，可辨识漏电降低的情况。系统配置宽温度范围在30摄氏度至200摄氏度的烤箱，和12块老化板，每块具有2个应力偏差(D/G)、可承载20个待测器件(DUT)，最高可达240个待测器件。在宽范围电压 (0V~2000V)和电流 (nA~mA)的应力条件，功率最高至20W的状态，确保待测器件受到保护。
思达科技执行长暨技术长刘俊良博士表示，"因应『小型化』和『节能』趋势的要求，高性能器件的需求增加。思达阿波罗Apollo HTGB/HTRB 可靠性测试系统，对功率器件制造商来说，是理想的解决方案，能为大量生产提供更高效率、具成本效益的验证测试，得到可信赖的测试结果。"
思达阿波罗系列是高性能的高功率器件可靠性测试系统
2023.08.08
提升高功率器件测试效率，思达科技推出On-Wafer测试解决方案
近几年，由于电能使用效率的需求兴起，高功率器件的需求出现爆炸性成长。通过On-Wafer测试（On-Wafer Test），制造商可以加快功率器件的开发及特性验证。半导体测试系统供应商-思达科技，所推出的高功率测试探针台，满足了On-Wafer高电压和高电流的测试应用。
Magic系列高功率解决方案，是专为On-Wafer器件测试而设计，支持大电流最高至3kV（三轴）、10KV（同轴）、大电流脉冲应用最高至300/600A。手动、半自动、全自动的探针台系列选项，可符合不同的测试预算和需求。
思达Magic A系列与P系列高电压探针台系统，能使标准的探针台更易于配置与工程化，在低噪声、阻隔电磁波干扰/光的屏蔽环境下，提供精准且可信赖的测量结果。高功率探测解决方案，配备先进的线性空气探针座（手动选项）或闭环XYZθ探针座（半自动或全自动探针台），在-60至300摄氏度的宽温度测试范围，提供优异的步进（Stepping）精准度。
在测试时的安全环境下，高压大电流探测解决方案，支持精密器件特性、晶圆级可靠性、故障分析、高功率、射频测量和硅光子等等的应用，可确保高性能和可信赖的测试，且配置了各种光学和电子仪器，和Chuck尺寸、热温度范围、显微镜的选项。
思达科技执行长暨技术长刘俊良博士表示，"On-Wafer测试解决方案，使得功率器件的特性验证流程加快，能有效减少器件制造商在设计与开发上的成本与时间。思达的高功率测试探针台解决方案，符合目前的行业需求，为客户提供可靠测试性能与测量结果。"
2023.06.21
思达科技与韩国Korea Conformity Laboratories签订半导体可靠性测试合作备忘录
知名半导体测试解决方案供应商—思达科技股份有限公司（以下简称思达科技），与韩国测试认证的领导实验室Korea Conformity Laboratories（以下简称KCL），今日宣布签订合作备忘录，就可靠性测试解决方案进行策略合作，来满足分离式半导体器件（discrete semiconductor devices）特性与验证测试。
分离式半导体，也就是"功率器件"或"功率半导体"，主要在减少高压和大电流应用中的功率损耗。而为了适应"小型化"和"节能"趋势的要求，对于高性能器件的需要不断地增加。对于大量生产而言，更高效益、更具成本效益、能够提供可信赖的测试结果，且加快上市时间的验证测试，成为制造商必须面对的关键问题。
思达科技在半导体器件特性测试方面，拥有数十年的经验，而不断开发先进的可靠性测试技术，为半导体制造商提供高效益的解决方案。 KCL是测试、检验和认证专业机构，为行业公司提供专业的咨询和服务。思达科技与KCL的合作，将引领研究发展方面的成就，同时企业在韩国市场的拓展。
Korea Conformity Laboratories的Director，Min-Jung Cho先生表示，"KCL以其专业验证测试服务闻名。随着新的应用市场快速成长，相关需求涉及的范围越来越广，半导体器件的开发也必须不断精进和创新。此备忘录是一项行销策略，将更增进我们在器件特性测试的技术。非常期待未来和思达科技的合作，为客户提供更完整的服务。"
思达科技韩国子公司总经理Byong-Sun Choi则表示, "今天很高与能在此宣布和KCL签订备忘录。我们现在有一个很好的合作伙伴，可以为高性能器件验证，提供具有竞争力的半导体可靠 性测试解决方案。我们相信，此次的合作将带来优化的架构，以及更具竞争力的产品和服务。期待在未来与KCL写下验证测试的新篇章。"
2023.06.14
思达科技设立亚利桑那鳯凰城探针卡应用服务中心
半导体测试系统和探针卡的领导供应商—思达科技，今日宣布在美国亚利桑那州的重要半导体制造地区，设立新的探针卡演示和潜力测试服务中心。命名为"卓越测试中"的新据点，隶属思达科技旗下，位在加利福尼亚州的集团公司STAr- Edge Technologies，由客服工程师和技术人员进驻，以支持逐渐增加的电子测试和量测需求。
思达科技的客户群包括主要的半导体制造商，而探针卡产品是实际应用在芯片制造过程中的晶圆验收和功能测试。随着新的演示和测试服务中心的设立，思达科技除了在台湾新竹总部的探针卡生产线以外，目前全球的探针卡生产和服务据点所在地，包括了台湾台南、加利福尼亚州和美国的亚利桑那州、新加坡、中国湖北武汉等等。
STAr-Edge Technologies副总经理Albert Ninalga表示，"在亚利桑那州设立的演示和测试服务中心，使我们能够更快速地满足客户的测试需求。此服务中更将通过密切长期的关系与双赢模式的合作，准确地提高探针卡的盈利能力，同时提高当地晶圆厂客户的测试效率。"
思达科技执行长暨技术长刘俊良博士则评论道，"随着行业客户不断扩大其业务和产品应用；亳无疑问地，我们也将致力在维持其创新和研发的成功。思达为全球半导体产业客户设计和制作探针卡，而我们独有的演示和服务中心，能够有效率地满足且解决他们的需求，且减少测试和测试技术发展的时间和成本。"
思达科技鳯凰城探针卡应用服务中心的地址如下：
2421 W Peoria Ave #124, Phoenix, AZ 85029, USA
2023.06.09
思达科技执行长荣获2023 SWTest研讨会最具启发性演讲简报奖
恭喜思达科技执行长暨技术长刘俊良博士，在2023 SWTest研讨会上发表，主题为"运用在先进批量生产在线程序监控和后段WAT测试的MEMS探针卡"（英文：MEMS Probe Cards for Advanced High-Volume Inline Process Control Monitoring (PCM) and End-of-Line Wafer-Acceptance Tests (WAT)）简报，获得最具启发性演讲简报奖。
刘俊良博士为思达科技执行长，在半导体集成测试系统、WAT测试和功能测试探针卡方面的技术和知识，备受肯定。在2021年带领思达研发团队，成功开发出全球首款微间距大电流MEMS垂直探针卡。思达持续专注在MEMS探针的运用，在今年推出了运用在WAT测试的3D/2.5D MEMS微悬臂探针卡，是MEMS探针技术的创新发展，超越了大多数的探针卡制造商。
刘博士表示，"真的非常荣幸！很高兴在SWTest 研讨会获得最具启发性的演讲简报奖项。感谢新加坡GlobalFoundries（格罗方德）的贡献，以及我们团队的大力支持。期待我们所有的支持者，将这些新的先进MEM探针卡和MEMS探针卡技术导入Inline PCM和End-of-Line WAT测试。"
2023.04.11
思达科技推出3D/2.5D MEMS微悬臂WAT探针卡
半导体测试探针卡制造领导厂商—思达科技，推出应用在WAT可靠性测试的3D/2.5D MEMS微悬臂探针卡。思达处女座Virgo-Prima系列探针卡是为纳米技术节点（nanometer technology node process）程序而设计实现的，它的测试表现，超越了行业测试市场上任何已知的测试解决方案。
思达科技多年来致力在MEMS探针的技术研发，持续推出先进的测试探针卡，以满足各种行业的产业测试需求，Virgo Prima系列是专为微型化程序IC而设计，用在产线WAT(晶圆验收) / 电性测试(E-test)、在线(In-Line) / 程序(process)的参数/电性测试(E-test)，和包括HCI、TDDB、EM等等的可靠性测试。
Virgo Prima 3D/2.5D MEMS探针拥有优异的物理特性，可提高测试效率。低寄生电容和低漏电流，且在-40至200摄氏度的宽工作温度范围内，有更高的稳定性，能够提高效率且得到可靠的量测结果；擦痕小、微粒少、对准表现佳、探针标记更好等等的优点，也能够降低行业客户的测试维修成本。
思达科技执行长暨技术长刘俊良博士表示，"先进的节点技术，增加了晶圆验收测试方面，运用具备成本效益解决方案的需求。思达处女座Virgo-Prima MEMS探针卡，是针对快速的应用开展而设计，集成关键的探针测试能力，为我们的客户提供更大的价值和测试表现。"
2024.03.29
思达科技拓展全球业务，成立菲律宾子公司STAr-Pearl Technologies
台湾，新竹 – 知名半导体测试解决方案供应商—思达科技，宣布成立菲律宾子公司—STAr-Pearl Technologies, Inc.(简称：SPT)。新办公室将于2023年3月开始运作，团队将为现有的客户提供在地化的支持和服务，同时持续扩展区域市场。
思达科技以其半导体和光学器件测试技术的创新，和全方位解决方案闻名；新据点的启用，是自2000年8月成立以来第六个子公司。思达目前在美国、韩国、中国、新加坡、菲律宾和印度设有子公司。
STAr Pearl Technologies总经理Ralph Valenton说，"对于此次的扩展，我们非常开心。区域半导体行业的快速成长，促使我们在菲律宾成立销售和工程团队。 SPT很开心也很荣幸，能为在地客户提供先进的半导体测试产品和服务，一定会在未来为思达集团创造一个新的里程碑。"
思达科技执行长刘俊良博士，针对这次策略性的拓展表示，"很高兴能在菲律宾LTI Binan设立新的据点，让我们能够扩大行业的客户群。思达的解决方案，是为了满足现今和未来行业客户持续不断变动的需求而研发。菲律宾子公司STAr Pearl Technologies，除了开启新的销售领域，也设定了重要的成长策略与目标，提升思达产品和品牌在全球行业和市场的知名度。"
STAr-Pearl Technologies Inc.联络信息如下：
地址：Unit 201 bldg.4 INNOREV CO. 141 East Main Ave. Loop, Laguna Technopark (LTI) Phase 6, Binan, 4024 Laguna Philippines
电话：+63-917-145-6906
STAr-Pearl Technologies位在菲律宾LTI Binan
2023.01.19
2022学年度思达科技"栽星计画"苗栗县国小学生助学金颁奖典礼
2022学年度苗栗县国小学生"栽星计画"年度助学金颁奖典礼，于2023年1月18日上午10时在头份市尚顺君乐饭店举行。苗栗县长钟东锦、教育处长叶芯慧及思达科技董事长刘俊良博士出席参与。会中邀请获得"栽星计画"奖助学金的国小学生，与捐赠奖助学金的思达科技董事长刘俊良博士面对面互动对谈、分享学习生活，气氛温馨。
"栽星计画"是知名半导体测试设备和探针卡供应商—思达科技刘俊良董事长所发起的长期鼓励苗栗国小学生向上向善的计画。在2022学年度正式启动后，思达科技将每年资助苗栗全县119(含分校)所国小优秀学生学期奖学金与在校清寒学生每月助学金，希望透过实际的行动，回馈社会且培育人才。亦安排"栽星计画"年度颁奖典礼，祝贺获得奖助学金的国小学生，并同时了解孩子们的学习现况，以鼓励学生们百尺竿头、精益求精。
思达科技董事长刘俊良博士表示，"非常高兴能够和获得"栽星计画"奖助学金的小朋友们见面会，这是此项计划最直接的回馈。我相信每一位孩子都拥有自己的特长和能力，也相信唯有让孩子们不受环境的限制、安心地学习，才能打好知识的根基，在未来发挥专长、成为社会的闪耀之星。而这正是"栽星计画"的主要宗旨。"
钟东锦县长表示，感谢刘俊良董事长对于基础教育的重视。此项慈善助学计画，能让县内国小学生获得适时适切的帮助，更能敦促其超越自我、展能精进。钟县长并同时勉励在场学生们，莫忘思达科技的善心义举，持续努力虚心学习，在日后成为优秀的人才。(来源:苗栗县府新闻)