产品信息 > 自动测试探针卡

Zeus 高频/射频薄膜探针卡是针对次世代半导体测试而设计。具备可调接触力、高通道密度，和多功能射频连接器选项，确保在不同的测试环境，实现卓越的性能和信号的完整性。

思达牡羊座CPC DDI/LDI是符合成本效益的悬臂式探针卡，可实现实现极小间距和高频探测，广泛运用在AI pad / Au bump / TAB / COF，和最终测试。

思达牡羊座Aries-Sigma CMOS/CCD是先进图像传感器测试探针卡，集成摄像镜头模块和光源，可实现金凸块(Gold Bump)和COF型的LCD驱动芯片的高频测试。

思达牡羊座 Aries-SIPs SOC IC测试探针卡专为混合信号、模拟、CIS及功率IC设计，支持对小型凸点焊盘、球栅阵列（BGA）、焊盘下电路（CUP）等进行探测。

思达牡羊座Aries-MIPs (存储器集成芯片探针卡)，为DRAMS、SRAM、FLASH和存储器芯片分选、老化测试等高度并行测试而建构设计，支持先进WLCSP 和 3D-stacked堆叠芯片测试。

思达牡羊座Aries LED探针卡是一款寿命长、专为并行LED 测试设计的Multi-DUT探针卡。可集成至 Unicorn LAIT Mini 和 Micro-LED 测试机，支持96个探针探测的单次触点。