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产品信息 > 自动测试探针卡

思达科技自动测试悬臂探针卡,呈现了市場上最佳的技术,可用于晶圆分类,BIST (Built-In-Self-Tests),KGD (Known Good Die),老化,图像传感器等等测试。

Aries-SIPs SOC IC集成电路芯片测试探针卡

思达牡羊座 Aries-SIPs SOC IC测试探针卡专为混合信号、模拟、CIS及功率IC设计,支持对小型凸点焊盘、球栅阵列(BGA)、焊盘下电路(CUP)等进行探测。

Aries-LIPs LCD 驱动芯片测试探针卡

思达牡羊座Aries-LIPs LCD驱动芯片探针卡,可实现超小间距和高频探测,运用AI多数的工艺,如AI pad/Au bump/TAB/COF的晶圆探测(CP)或最终测试(FT)。

Aries-MIPS 存储器集成芯片测试探针卡

Aries-MIPS 存储器集成芯片测试探针卡

思达牡羊座Aries-MIPs (存储器集成芯片探针卡),为DRAMS、SRAM、FLASH和存储器芯片分选、老化测试等高度并行测试而建构设计,支持先进WLCSP 和 3D-stacked堆叠芯片测试。

Aries-Sigma 图像传感器测试探针卡

Aries-Sigma 图像传感器测试探针卡

Aries-MIPS 存储器集成芯片测试探针卡

思达牡羊座Aries-Sigma CMOS图像传感器测试探针卡,集成了摄像镜头模块和光源,是一款可以用于模拟使用环境测试的先进探针卡。可更换的探针头,实现了高良率测试,同时降低重建成本并确保最长的工作时间。

Aries-LED LED多点并行测试探针卡

Aries-Sigma 图像传感器测试探针卡

Aries-LED LED多点并行测试探针卡

思达牡羊座Aries LED探针卡是一款寿命长、专为并行LED 测试设计的Multi-DUT探针卡。可集成至 Unicorn LAIT Mini 和 Micro-LED 测试机,支持96个探针探测的单次触点。

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