产品信息 > 自动测试探针卡
思达科技自动测试悬臂探针卡，呈现了市場上最佳的技术，可用于晶圆分类，BIST (Built-In-Self-Tests)，KGD (Known Good Die)，老化，图像传感器等等测试。
Aries-SIPs SOC IC集成电路芯片测试探针卡
Aries-SIPs SOC IC集成电路芯片测试探针卡
Aries-SIPs SOC IC集成电路芯片测试探针卡
思达牡羊座Aries-SIPs (集成电路芯片测试探针卡)，支持探测微小焊垫，凸块焊垫，BGA (Ball Grid Array)，CUP (Circuits Under Pads) 等测试。
Aries-LIPs LCD 驱动芯片测试探针卡
Aries-SIPs SOC IC集成电路芯片测试探针卡
Aries-SIPs SOC IC集成电路芯片测试探针卡
思达牡羊座Aries-LIPs (驱动芯片测试探针卡) 能够实现极小间距和高频探测，被广泛运用于AI pad / Au bump / TAB / COF，以及最终测试。
Aries-MIPS 存储器集成芯片测试探针卡
Aries-SIPs SOC IC集成电路芯片测试探针卡
Aries-MIPS 存储器集成芯片测试探针卡
思达牡羊座Aries-MIPs (存储器集成芯片探针卡)的设计和建构是用于支持对DRAM，SRAM，FLASH等存储器集成芯片，进行分类和老化测试时的高度并行探测。
Aries-Sigma 图像传感器测试探针卡
Aries-Sigma 图像传感器测试探针卡
Aries-MIPS 存储器集成芯片测试探针卡
思达牡羊座Aries-Sigma是集成了相机镜头模块和光源的先进探针卡，可在模拟使用条件下测试图像传感器。
Aries-LED LED多点并行测试探针卡
Aries-Sigma 图像传感器测试探针卡
Aries-LED LED多点并行测试探针卡
思达牡羊座Aries-LED 探针卡是设计用在LED并行探测，集成到Unicorn LAIT LED先进集成测试仪，应用于Mini-LED 和 Micro-LED 测试。