概述：
思达科技提供的晶圆参数量测探针卡的重要技术训练课程！
本论坛针对追求量测/探测技术的半导体行业用戶，完全订制的专业内容！
汇聚晶圆参数量测探针卡和量测系统的专家，带您了解半导体验证测试
程序中，重要的探针卡技术与问题对应，和最新的探针卡发展趋势。
论坛特点：
■ 专注晶圆参数量测探针卡，深入探讨探针卡在半导体工艺中运用。
■ 汇聚行业专家，推升晶圆参数量测探针卡用户的技术和工作效率。
■ 剖析前沿探针卡技术和创新的解决方案，共同研究未来的测试挑战。
通过深度的交流，提升晶圆探测测试技术。竭诚欢迎您的莅临指导！
专业讲师：
简裕民 Yu-Ming Chien
思达科技 量测事业群总经理
朱彬 Paul Zhu
Keysight是德科技 半导体测试事业处技术支持经理
林志豪 Chih-Hao Lin
思达科技 探针卡技术支持经理
钮永军Yongjun Niu
TEL东京电子 资深经理
罗中 Daniel Lo
思达科技 探针卡研发部经理
(以上按讲演时序排列)
