2025.08.29
思达科技为半导体测试解决方案添动能 今年已走过四分之一个世纪
拥有25年的专业经验和创新精神，思达致力强化与未来技术的链结和次世代的测试挑战
思达科技是半导体测试系统和探针卡的领导供应商。 2000年成立以来，秉持开拓性的愿景，现已发展成为拥有多项技术突破的公司；致力于协助行业客户，在半导体器件的生产制造和工程设计方面，能更有高效、更具成本效益的方式。今天，思达科技庆祝成立25周年，目标是进一步构建更多支持性的解决方案，以满足次世代的测试需求。
联合创始人兼董事长简裕民表达了心中的感谢。他说：「今年适逢公司成立25周年，走过四分之一个世纪，思达在这25年间一直是稳定发展。我在此诚挚地表达对于所有员工、伙伴、供应商和行业界朋友们的长期支持；以及分布在世界各地的客户，您们的信任让思达科技可以不断地蓬勃发展。」
思达科技创始人兼首席执行官刘俊良博士表示：「过去25年硕果累累，但更大的成就尚未到来。正如我们在创立之初的口号—『梦想成真』，期望能将思达科技打造成一家半导体测试行业界的卓越公司，一家让同仁乐于为长远目标努力的企业。我们的坚持从未改变，梦想的实践持续进行着。」
成立于2000年8月29日，思达科技是亚洲第一家专注在半导体参数测试设备的供应商。目前的产品，涵盖了参数测试仪器、晶圆级和封装级可靠性测试系统、自动测试设备ATE、探针台，以及参数WAT测试探针卡、Wafer Sort测试探针卡等等。员工人数从少于10人，到现在近千人的规模，强化了全球销售服务网络，与行业客户一同面对未来半导体的测试挑战！
2025.08.06
高性能HTRB/HTGB/H3TRB 可靠性测试系统
半导体测试系统领导供应商思达科技，今天宣布推出Apollo HTGB/HRTB/H3TRB可靠性测试系统。此平台是针对氮化镓（GaN）、碳化硅（SiC）、MOSFET、IGBT等功率器件测试而设计。
快速充电和存储技术的不断进步，推升前沿应用的发展。思达阿波罗Apollo系列测试系统，在对应电动车（EV）、人工智能（AI）和高性能计算(HPC)等领域持续成长的需求，扮演关键性的角色。特别为满足市场趋势带来的测试挑战，并进行精准量测，符合MIL-STD-750、JESD22-A108 和 AEC-Q101 标准的要求。
Apollo测试系统的特色，在于高性能的可靠性测试应用，尤其适用在高功率器件的HTRB、HTGB 和H3TRB测试。此系统可提供±2000V（HTRB）和 ±200V（HTGB）的高压量测，测试演算法则包括Vth、Ron、Idss、Igss、IV 曲线等等；且配置30 至 200摄氏度的宽温度范围烤箱、12张老化板（Burn-In Board）和二种应力偏压 (D/G)，并行测试最多可达144 个待测器件 (DUT)。
思达科技量测事业部资深总裁简裕民表示：「随着AI和高端运算的不断发展，高功率半导体器件的可靠性测试，对制造商来说更加重要。思达Apollo HTRB/HTGB/H3TRB可靠性测试系统，确保我们的客户能有效率的验证高功率器件特性，并在市场推出。」
了解更多思达科技Apollo HTRB/HTGB/H3TRB可靠性测试系统的产品信息，请联系我们的销售代表，或发送电邮 Sales-CN@STAr-Quest.com。
思达推出阿波罗Apollo高功率器件可靠性测试系统
2025.03.18
思达科技处女座Virgo Prima系列3D/2.5D MEMS WAT测试探针卡
台湾，新竹讯 - 思达科技是探针卡领导厂商，在探针卡技术已有25年经验，且居于探针卡制造技术的先进前沿地位。所推出的处女座Virgo Prima，是半导体参数与可靠性测试的探针系列之一，展现思达应用在WAT晶圆参数量测（Wafer Acceptance Test, 简称WAT）的3D/2.5D MEMS工艺探针卡技术开发方面的成就；同时提供使用者，在测试效率的正向效益，以及可信赖的结果。
MEMS探针卡（(Micro-Electro-Mechanical Systems, 简称MEMS)，具备优化的结构，适用于支持微间距(fine-pitch)及高引脚数（high-pin count）测试需求。思达处女座Virgo Prima MEMS微悬臂式探针卡，运用MEMS探针的优点和技术经验，针对纳米技术、节点制程与扩展性能而设计，超越既有的WAT晶圆参数量测探针卡。
思达处女座Virgo Prima探针卡的特色包括：
- 浅刮痕深度的小针痕)
- 低寄生电容LC和低漏电流
- 优良的接地屏蔽，完全隔离杂讯
- 高温可靠性测试，最高可达200摄氏度(HCI, NBTI, TDDB, EM)
「在半导体制造中，晶圆参数量测探针卡在特性验证测试方面，扮演不可或缺的角色。」思达科技量测事业群资深副总简裕民表示：「思达处女座Virgo Prima系列探针卡，确保优异的测试表现，同时确切地符合半导体行业，和多元运用的技术而兴起的测试需求。」
思达处女座Virgo Prima是运用在ＷＡＴ测试的MEMS工艺微悬臂探针卡
2025.01.24
思达科技南韩国子公司获得DB HiTek最佳供应商奖
首尔，南韩 - STAr Technologies, LLC. (韩文：스타테크놀러지스코리아 유한회사)宣布获得DB HiTek Co., Ltd. (韩文：주식회사 디비하이텍) 在项目开发和发展类别的最佳供应商奖。该奖项是在表彰DB HiTek的供应商在2024年对其半导体测试技术上的贡献。
STAr Technologies, LLC.（简称STAr Korea）成立于2002年，是思达科技事业群的公司之一，以成为南韩半导体市场行业客户的支持合伙伴为目标。20多年来，STAr Korea持续因应市场趋势，为客户提供最具效益的测试解决方案和服务。
在2024年，STAr Korea与DB HiTek针对碳化矽（SiC）、氮化镓（GaN）的高功率应用展开合作，且取得良好结果。获得最佳供应商奖项，是对STAr Korea贡献的认可，并鼓励我们在涵盖不同运用的半导体测试技术上继续努力。
STAr Technologies, LLC.总经理Byong-Sun Choi表示：「我们很高兴也很荣幸获得此项重要的认可。这个奖项不仅强调我们目前的成就，也是对DB HiTek与我们之间伙伴关系的认同。期待双方在未来的合作机会！」
关于DB HiTek
DB HiTek Co., Ltd.是半导体行业十大代工厂之一，在世界拥有二座世界一流的晶圆制造工厂，运用二十年来的关键技术成果，持续满足全球无晶圆厂的企业需求。
关于思达科技STAr Technologies
思达科技STAr Technologies总公司位在台湾新竹，且在南韩、美国、日本、新加坡、菲律宾、中国和印度设有子公司，专精在测试解决方案，以满足半导体和光学器件行业的需求与挑战。
思达韩国子公司团队获得DB HiTek的最佳供应商奖
2025.01.04
思达科技「栽星计画」助学金颁奖典礼
为鼓励优秀学子努力向学，由思达科技启动的「栽星计画」，将于2025年1月3日上午在苗栗县头份市尚顺君乐饭店举行助学金颁奖典礼，苗栗县长钟东锦、教育处长叶芯慧、思达科技执行长刘俊良博士与简裕民董事长亲自出席。思达科技「栽星计画」已迈入第三个年头，通过这项计画，鼓励在逆境中求学的孩子，帮助他们逐步稳践地实现自己的梦想。
颁奖典礼气氛温馨，在现场国小学童表达了对于刘俊良博士表达感谢，并与刘博士互动对谈、分享学习生活。思达科技执行长刘俊良博士表示：「孩子是我们的未来，希望通过助学金减轻生活压力，让学生能够专心向学，未来走向更宽阔的舞台。感谢支援这个计划的苗栗县的国小教职员及思达科技的工作人员，让『栽星计画』持续成真。」
苗栗县长钟东锦则对于刘俊良博士重视基础教育的感谢。他同时表示，此项助学计划使得县内的国小学生得到适切的帮助及安心就学。同时勉励获奖的学生，要订立目标且尽力的完成它，实践『栽星计画』的精神，成为有用的人才！